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红外焦平面探测器性能参数测试系统
半导体芯片测试
红外焦平面探测器性能参数测试系统
系统功能
- 红外焦平面阵列探测器综合性能测试与评估系统是一个集光、机、电、算于一体的复合测试平台，主要应用于对红外探测器（包括单元、线列、面阵探测器及读出电路）的各项关键电学和光谱学性能参数进行精确测量与评估。该系统是红外探测器在研发、生产、质检、性能筛选和验收过程中的核心设备。可适配于各类材料（制冷和非制冷）、各种阵列大小（线阵和面阵）、各种读出电路（模拟和数字）红外探测器的测试需求
技术特点
- 1.模块化设计，可适配多种规格红外探测器的极低噪声的驱动电源、任意可编辑数字模式驱动序列和高精度高速率信号采集模块（80Msps@8ch，20Msps@64ch）
- 2.全参数覆盖，依据最新国标 GB/T 17444-2013，提供精准的全参数测试结果，包括"响应率"和"响应率不均匀性"、"探测率"、"噪声等效温差"、"死象元"和"过热象元"等参数
- 3.提供专业的测试分析软件，友好的图形化操作界面，实现实时成像、图像处理与参数分析等测试评估工作