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ADC 数据转换芯片测试系统
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应用案例
ADC 数据转换芯片测试系统
系统功能
ADC/DAC 芯片测试系统的核心测控功能基于统一的 PXI 平台构建,采用模块化的软硬件设计,可覆盖芯片实验室设计验证(Design & Verification)阶段、小批量实验室样片测试阶段、量产测试阶段等全周期自动化测试
技术特点
1.
广泛应用于高性能数据转换器(16-bit/24-bit AD/DA)、电源管理芯片(BMS AFE)、功率管理芯片(PMIC)、隔离放大器、MEMS、MCU 等芯片测试
2.
针对模拟/混合信号芯片的实验室设计验证、小批量测试与量产测试提供一站式解决方案
3.
基于工业标准的模块化硬件设计,结合高效通用的测试软件,可大幅提高并行测试效率,支持 8-site 并行测试,在实验室测试与产线测试方面都具有强大的性能表现
4.
强大的模拟与数字测试能力,高性能的 SMU 电源与声音信号源,单机高达 256 通道的数字 pattern 仪器,测试功能可覆盖主流模拟/混合信号芯片的数据转换精度与速率、功率转化精度与时延、典型静态与动态性能指标等参数
5.
提供高精度、高稳定性的 LoadBoard 和 DutBoard,从容应对高性能模拟芯片、SMU、动态信号源等精密仪器所带来的严苛挑战,为芯片自动化测试系统提供高质量、可重复的信号测试链路
6.
提供良好的开发环境,灵活的参数配置和高效的调试工具,实现测试程序快速开发和验证;提供量产测试模式,快速对接工厂 IT 接口,实现产测部署
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